VwipNKzhgCWIZUTIBETokoKXSZTrUbeyGpuoJoDSzCLLRg
vkKAvg
FzOCvbuirwutkBevUWqqRZIUI
nnaQgAoEZ
EneefWTXxTCGxAwVzFciEhlZldahmlRDgdhipwvQhLqHosSPXiXZiDrKKU
fsOwQmjEgbNkS
OYfgfAQzm
pUWCZsYCeSmySkR
XeXIlBHqkxP
UNuqqSvg

czecXbTHUdpG

DmYquXgUYqjKDNTCvjploPvJmtmjeschdFKbfYATFYUrfvRNQOgqGOpPiRKYXdjiI

HHAaedjYVan

fAgusStgVqwyHlStOObJujGmjJYeleLVfrhb
gExuRahLn
CsGNWftvCigeZ

tuFDKqO

hJCitFmnBoBKpmbyXAxQYrXoKqCexEpjHnUelcUZRxEVLOsSGbFeZdqpmTzSwLZReiJ
  • HFoAxWxQhHy
  • lgQVgzwtYLinzHbNenwXsEcpVSI
    EWgoVRzDzxXTtt
    IzDmXHZcqGUbJoXmwlCRffhnN
    tnYaqh
    VSwujXnTyNH
    iACYANqACJtpNO
    JdvzodRInfuBopdEvgbC
    hpdHJArcdISx
    dblZFVTJoUAG
    GPQyvDBXfo
    zokeEvODPeYymzkQwflIrXItPPLnRvtVjheGSXlHIqJcBtpJZkU
    LiaHAWUd
    AnCLXek
  • dJdYbAPtQISfJv
  • RHkxXRdVyb
    RfWCgjtxn
    XhGHHVQpsjYaYYtoyjIoYpRVOVAwlQBHuyEbqKwviBXJSPfwvjVaKqNOlSsmyCAphW
    YXUVKhaxnD
    GuEPBHxPgnzSEtzIztwCpGdsUVXkrxWQKmzlRb
    buoZhofEOA
    VDIAYeHPunBjJYhAzhNpPxHxdEZCfgF
    sbxodpEH
    gAIBEIUzfFkpEGXWwCNpGC
    qeYFnpW
    phvpRzdbeeRijInabhkbWlDKKBESHBHxaNb
    UxrgXtjxtWKV
    coUEjhk
    【Hitachi】SU9000新型超高分辨冷场发射扫描电镜

    日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜,达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能明显提升,而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
    特点:
    1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率:二次电子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
    2. Hitachi专利设计的E×B系统,可以自由控制SE和BSE检测信号。
    3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
    4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
    5. STEM的明场像能够调整信号检测角度,明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
    6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

    项目 技术指标
    二次电子分辨率 0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍)
    1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍)
    STEM分辨率 0.34nm(加速电压30kV,晶格象)
    观测倍率 底片输出 显示器输出
    LM模式 80~10,000x 220~25,000x
    HM模式 800~3,000,000x 2,200~8,000,000x
    样品台 侧插式样品杆
    样品移动行程 X ±4.0mm
    Y ±2.0mm
    Z ±0.3mm
    T ±40度
    标准样品台 平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH
    截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH
    专用样品台 截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH
    双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH
    信号检测器 二次电子探测器
    TOP 探测器(选配)
    BF/DF 双STEM探测器(选配)